Процесс диагностирования ЦУ требует использования так называемой диагностической информации (ДИ). Для реальных современных ЦУ эта информация имеет очень большой обьем, что порождает значительные трудности при обнаружении и локализации неисправностей.
Решению проблемы уменьшения объема (сокращения) ДИ посвящено много работ российских и зарубежных ученых, в которых были предложены различные подходы и методы. Следует отметить, что "проклятие размерности", как это происходит и в других предметных областях, не удается "ликвидировать" неким универсальным способом. По этой причине были сделаны попытки создания приемлемых по эффективности методов сокращения (компрессии) ДИ с использованием различных средств, включая, например, специальные методы проектирования ЦУ, особую организацию самой ДИ, специализированную аппаратуру и т.п. Вместе с тем каждый из перечисленных подходов имеет свои достоинства и недостатки и ограниченную сферу применения. Несмотря на большое число работ в указанном направлении, в целом прблема сокращения ДИ остается открытой до сегодняшнего дня.
Под термином "диагностическая информация" понимают совокупность данных, наличие которых необходимо для проведения процесса диагностирования. Содержание диагностической информации зависит от применяемой технологии диагностирования. Однако в любом случае ДИ должна содержать в себе данные о каждом тестовом воздействии, информацию о составе контрольных точек ЦУ, с которых "снимаются" его реакции на тестовые воздействи, ожидаемые результаты тестовых воздействий, а также данные о последовательности подачи тестовых воздействий в процессе диагностирования.
Ожидаемые результаты тестовых воздействий могут быть оформлены заданием явной математической модели объекта диагностирования.
Такую модель часто представляют в табличной форме с помощью так называемой таблицы функций неисправностей (ТФН). Эта таблица является прямоугольной. Каждой ее строке ставится в соответствие техническое состояние объекта диагностирования из множества $$S$$, а столбцам -
Если множество тестов $$T$$ обладает свойством обнаружения любой неисправности из множества $$F$$ всех рассматриваемых допустимых неисправностей, т. е. для любой неисправности $$f_i\in F$$ найдется хотя бы один тестовый набор $$t_j$$ такой , что $$R_{0j}\ne R_{ij}$$, то все строки ТФН отличны от первой строки (здесь $$R_{0j}$$ - реакция исправного ЦУ на тест $$t_j$$). Если же множество $$T$$ обладает также свойством различения всех неисправностей из множества $$F$$, т. е. для каждой пары неисправностей $$f_i$$,$$f_k\in F$$, найдется хотя бы один тестовый набор $$t_j$$ такой, что $$R_{ij}\ne R_{kj}$$, то все строки таблицы, представляющие неисправные состояния, попарно различны.
В качестве примера проиллюстрируем построение таблицы функций неисправностей устройства, изображенного на рис. 27.1(комбинационная схема С17 из каталога ISCAS-85).
(рис 27.1) Комбинационная схема С17
Пусть множество неисправностей ограничено восемью неисправностями, представленными в табл. 27.1.
| $$ f_1$$ | Константа единица на входе 3 |
|---|---|
| $$ f_2$$ | Константа единица на первом входе блока 7 |
| $$ f_3$$ | Константа ноль на выходе блока 7 |
| $$ f_4$$ | Константа единица на выходе блока 8 |
| $$ f_5$$ | Константа единица на втором входе блока 10 |
| $$ f_6$$ | Константа ноль на выходе блока 10 |
| $$ f_7$$ | Константа ноль на выходе блока 11 |
| $$ f_8$$ | Константа единица на входе 2 |
Через $$s_i$$ обозначим техническое состояние устройства, содержащее неисправность $$f_i (i = 1,2, \ldots,8)$$.
Каждый тестовый набор $$t_j$$ будем далее именовать также элементарной проверкой и обозначать через $$\pi_j$$.
В табл. 27.2 представлены все возможные тестовые воздействия, используемые для проверки устройства С17. Каждая элементарная провека $$\pi_j$$ представлена пятизначным двоичным кодом , в котором значения разрядов, перенумерованных слева направо, равны значениям сигналов, подаваемых на входы 1- 5 устройства.
| $$ \pi_{0} $$ | 00000 | $$ \pi_{8} $$ | 00010 | $$ \pi_{16} $$ | 00001 | $$ \pi_{24} $$ | 00011 |
| $$ \pi_{1} $$ | 10000 | $$ \pi_{9} $$ | 10010 | $$ \pi_{17} $$ | 10001 | $$ \pi_{25} $$ | 10011 |
| $$ \pi_{2} $$ | 01000 | $$ \pi_{10} $$ | 01010 | $$ \pi_{18} $$ | 01001 | $$ \pi_{26} $$ | 01011 |
| $$ \pi_{3} $$ | 11000 | $$ \pi_{11} $$ | 11010 | $$ \pi_{19} $$ | 11001 | $$ \pi_{27} $$ | 11011 |
| $$ \pi_{4} $$ | 00100 | $$ \pi_{12} $$ | 00110 | $$ \pi_{20} $$ | 00101 | $$ \pi_{28} $$ | 00111 |
| $$ \pi_{5} $$ | 10100 | $$ \pi_{13} $$ | 10110 | $$ \pi_{21} $$ | 10101 | $$ \pi_{29} $$ | 10111 |
| $$ \pi_{6} $$ | 01100 | $$ \pi_{14} $$ | 01110 | $$ \pi_{22} $$ | 01101 | $$ \pi_{30} $$ | 01111 |
| $$ \pi_{7} $$ | 11100 | $$ \pi_{15} $$ | 11110 | $$ \pi_{23} $$ | 11101 | $$ \pi_{31} $$ | 11111 |
Результат построения ТФН для устройства C17 представлен в табл. 27.3. Содержимое каждой клетки этой таблицы представляет собой двузначный двоичный код, первый разряд которого соответствует значению на выходе 12, а второй - значению на выходе 13.
Из анализа построенной ТФН можно сделать вывод, что множество T элементарных проверок обладает свойством обнаружения любой неисправности из множества $$F$$: проверка $$\pi_1$$ отличает $$s_0$$ от состояний $$s_1$$ и $$s_8$$, проверка $$\pi_2$$ - от состояний $$s_3$$, $$s_4$$, $$s_5$$, $$s_6$$ и $$s_7$$, а $$\pi_{10}$$ отличает $$s_0$$ от $$s_2$$. Множество $$T$$ обладает также свойством различения всех неисправностей из множества $$F$$. Действительно, проверка $$\pi_1$$ различает состояния $$s_1$$ и $$s_8$$ между собой и отличает их от остальных состояний. Таким же образом пр оверка $$\pi_{21}$$ различает между собой и отличает от других технические состояния $$s_3$$, $$s_6$$, $$s_7$$, а оставшиеся состояния $$s_4$$ и $$s_5$$ различает между собой проверка $$\pi_2$$.
Таблица неисправностей, как универсальная математическая модель объекта диагностирования, очень наглядна и удобна при обсуждении и классификации принципов, а также основных процедур построения и реализации алгоритмов диагностирования, даже если эти принципы и процедуры первоначально формулируются на языках, отличных от языка таблиц функций неисправностей.
Однако непосредственное использование таблицы функций неисправностей как формы представления информации при построении и реализации алгоритмов диагностирования и физических моделей объектов диагностирования часто невозможно из-за большой размерности таблицы.
Вместо полных ТФН в процессах диагностирования практическое применение получили так называемые $$T$$-таблицы функций неисправностей.
| $$ \pi_{0}$$ | $$ \pi_{1}$$ | $$ \pi_{2}$$ | $$ \pi_{3}$$ | $$ \pi_{4}$$ | $$ \pi_{5} $$ | $$ \pi_{6} $$ | $$ \pi_{7} $$ | $$ \pi_{8} $$ | $$ \pi_{9} $$ | $$ \pi_{10} $$ | $$ \pi_{11} $$ | $$ \pi_{12} $$ | $$ \pi_{13} $$ | $$ \pi_{14} $$ | $$ \pi_{15} $$ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| $$s_0$$ | 00 | 00 | 11 | 11 | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 00 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_1$$ | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_2 $$ | 00 | 00 | 11 | 11 | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 |
| $$s_4 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_5 $$ | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 10 | 01 | 11 | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_6 $$ | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 00 | 00 | 00 |
| $$s_7 $$ | 00 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 10 | 10 | 00 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_8 $$ | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 |
| $$ \pi_{16} $$ | $$ \pi_{17} $$ | $$ \pi_{18} $$ | $$ \pi_{19} $$ | $$ \pi_{20} $$ | $$ \pi_{21} $$ | $$ \pi_{22} $$ | $$ \pi_{23} $$ | $$ \pi_{24} $$ | $$ \pi_{25} $$ | $$ \pi_{26} $$ | $$ \pi_{27} $$ | $$ \pi_{28} $$ | $$ \pi_{29} $$ | $$ \pi_{30} $$ | $$ \pi_{31} $$ | |
| $$s_0$$ | 01 | 01 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_1$$ | 01 | 11 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_2 $$ | 01 | 01 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 11 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_4 $$ | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 11 | 01 | 11 | 01 | 01 | 01 | 01 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_5 $$ | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 11 | 01 | 11 | 01 | 01 | 01 | 01 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_6 $$ | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 00 | 00 | 00 | 00 |
| $$s_7 $$ | 00 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 10 | 10 | 10 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_8 $$ | 10 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 |
Как видно из приведенного примера, полная ТФН может содержать большой объем избыточной информации, который можно сократить. Определение совокупности $$T$$ элементарных проверок, входящих в алгоритм диагностирования, соответствует выделению определенной совокупности столбцов таблицы функций неисправностей. Для алгоритмов проверки исправности, работоспособности или правильности функционирования устройства эта совокупность столбцов такова, что строка образуемой ими
Возможное содержимое $$T$$-ТФН для алгоритма поиска неисправностей устройства C17 из последнего примера приведено в табл. 27.4.
При представлении физической модели объекта с помощью $$T$$-ТФН процесс расшифровки фактических результатов $$R^*_j$$ элементарных проверок можно представить следующим образом. Каждая реализованная элементарная проверка $$\pi_j$$ выделяет соответствующий столбец $$T$$-ТФН, а ее фактический результат $$R^*_j$$ делит множество строк таблицы на два подмножества. Строки, соответствующие техническим состояниям $$s_i$$, для которых $$R_{ij}\ne R^*_{j}$$, "вычеркиваются" из таблицы. Оставшиеся строки, для которых $$R_{ij} = R^*_{j}$$, представляют подмножество возможных технических состояний объекта. Завершению процесса диагностирования соответствует момент, когда в таблице останется единственная "невычеркнутая" строка. Заметим, что "вычеркивание" строки, соответствующей $$s_0$$ , означает, что объект диагноза неисправен.
| $$ \pi_1$$ | $$ \pi_2$$ | $$ \pi_{10}$$ | $$ \pi_{21}$$ | |
|---|---|---|---|---|
| $$s_0$$ | 00 | 11 | 11 | 11 |
| $$s_1$$ | 10 | 11 | 00 | 11 |
| $$s_2 $$ | 00 | 11 | 00 | 11 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 |
| $$s_4 $$ | 00 | 00 | 00 | 11 |
| $$s_5 $$ | 00 | 01 | 01 | 11 |
| $$s_6 $$ | 00 | 01 | 01 | 01 |
| $$s_7 $$ | 00 | 10 | 10 | 10 |
| $$s_8 $$ | 11 | 11 | 11 | 11 |
Чем меньше число столбцов $$T$$-ТФН, тем (при прочих равных условиях) проще реализация соответствующего ей алгоритма диагностирования и представляемой ею физической модели объекта. Поэтому при проектировании систем диагностирования часто стремятся строить алгоритмы диагностирования как можно c меньшим числом входящих в них элементарных проверок. Чем больше разнообразие элементарных проверок в множестве $$T$$, тем шире возможности получения алгоритмов диагностирования с малым числом элементарных проверок. Однако, вообще говоря, чем больше столбцов (а также строк) содержит полная ТФН, тем больше требуется операций по ее обработке для построения экономных алгоритмов диагностирования. Отсюда можно сделать неформальный вывод о том, что чем больше усилий будет затрачено при построении алгоритма диагностирования, тем будет проще последующая техническая реализация системы диагностирования.
При безусловном диагностировании устройства (подача теста производится без прерывания этого процесса для проведения какого-либо анализа) множество $$T$$ состоит из единственного воздействия $$\tau$$, состоящего из некоторой последовательности элементарных проверок. $$T$$-ТФН для алгоритма диагностирования в этом случае будет состоять из единственного столбца. В клетку $$i$$-ой строки $$T$$-ТФН ($$0\le i\le |S|$$) вписывается последовательность ответов объекта $$f_i$$ на элементарные проверки в порядке их следования в диагностическом тесте - полная реакция объекта $$f_i$$ на диагностический тест. Полная реакция эталонного устройства $$f_0$$ в таком случае называют эталонной реакцией.
Например, пусть для устройства $$C17$$ диагностический тест $$\tau$$ представляет собой последовательность проверок $$ \pi_{27}$$, $$ \pi_1$$, $$ \pi_3$$, $$\pi_{29}$$. Для такого случая результат построения $$T$$-ТФН приведен в табл. 27.5.
| $$ \pi_{27}$$ | $$ \pi_1$$ | $$ \pi_3$$ | $$ \pi_{29}$$ | |
|---|---|---|---|---|
| $$s_0$$ | 11 | 00 | 11 | 10 |
| $$s_1$$ | 10 | 10 | 11 | 10 |
| $$s_2 $$ | 00 | 00 | 11 | 10 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 10 |
| $$s_4 $$ | 01 | 00 | 00 | 10 |
| $$s_5 $$ | 01 | 00 | 01 | 10 |
| $$s_6 $$ | 01 | 00 | 01 | 00 |
| $$s_7 $$ | 10 | 00 | 10 | 10 |
| $$s_8 $$ | 11 | 11 | 11 | 10 |
Построенная таким образом $$T$$-ТФН играет роль словаря неисправностей. Словарь неисправностей, представляющий собой $$T$$-ТФН, называют словарем полной реакции (СПР).
Информация, представленная $$T$$-ТФН, составляет значительную долю диагностической информации, необходимой для контроля и поиска неисправностей у объекта диагностирования. Общий объем $$T$$-ТФН в случае, когда каждая элементарная проверка представляет собой один набор значений входных переменных, может быть вычислен по формуле
$$(|F|+1)\cdot |T|\cdot m\cdot b$$где $$m$$ - количество выходных переменных объекта диагностирования, а $$b$$ - количество бит, необходимых для хранения значения одного выходного параметра объекта диагностирования.
Несмотря на то, что размерность $$T$$-ТФН гораздо меньше размерности полной ТФН, ее объем для достаточно сложных устройств все же остается значительным.
Существует две основные технологии, направленные на его сокращение. Первая - минимизация количества элементарных проверок в множестве $$T$$ или количества воздействий в диагностическом тесте $$\tau$$ при максимальном диагностическом разрешении. Это направление детально исследуется в работах [1-3].
Другая технология связана с особыми формами организации информации, содержащейся в $$T$$-ТФН, с целью уменьшения ее общего объема. Этому направлению посвящены работы [4-20].
В задачах обнаружения неисправностей необходимость в информации из $$Т$$-ТФН, касающейся неисправных модификаций объекта диагностирования, отпадает. Поэтому в данной ситуации вместо $$T$$-ТФН в ДИ может содержаться лишь информация для технического состояния $$s_0$$ (исправного устройства), а в случае безусловного диагностирования содержимое $$Т$$-ТФН вырождается в единственную реакцию исправного объекта - эталонную реакцию. Хотя объем такой $$Т$$-ТФН уменьшается по сравнению с объемом, представленным в (27.1) в $$?F?+1$$ раз, но тем не менее желательно его дальнейшее сокращение. Вопросы дальнейшего сокращения исследуются и реализуются при проектировании систем встроенного тестирования. В частности, эти вопросы решаются и методами компактного тестирования,о которых мы говорили в предыдущей лекции.
Таблица функций неисправностей - содержит информацию о реакциях проверяемого ЦУ, находящегося в различных технических состояний, на все
Т- таблица функций неисправностей - таблица , полученная из полной таблицы функций неисправностей путем удаления из нее избыточной информации.
В лекции описана таблица функций неисправностей, содержащая информацию о реакциях проверяемого ЦУ, находящегося в различных технических состояниях, на все наборы используемого теста. Кратко описана так называемая $$T$$-ТФН, получаемая из полной таблицы функций неисправностей за счет удаления из нее избыточной информации.
(рис 27.2) Пример комбинационной схемы.
| Неисправность $$f_1$$ | Константа 1 на выходе блока 4 |
|---|---|
| Неисправность $$f_2$$ | Константа 1 на выходе блока 5 |
| Неисправность $$f_3$$ | Константа 0 на входе 2 |
| Неисправность $$f_4$$ | Константа 1 на выходе блока 9 |
| Неисправность $$f_5$$ | Константа 0 на выходе блока 10 |
Для этого устройства и заданного множества неисправностей :
Процесс диагностирования ЦУ требует использования так называемой диагностической информации (ДИ). Для реальных современных ЦУ эта информация имеет очень большой обьем, что порождает значительные трудности при обнаружении и локализации неисправностей.
Решению проблемы уменьшения объема (сокращения) ДИ посвящено много работ российских и зарубежных ученых, в которых были предложены различные подходы и методы. Следует отметить, что "проклятие размерности", как это происходит и в других предметных областях, не удается "ликвидировать" неким универсальным способом. По этой причине были сделаны попытки создания приемлемых по эффективности методов сокращения (компрессии) ДИ с использованием различных средств, включая, например, специальные методы проектирования ЦУ, особую организацию самой ДИ, специализированную аппаратуру и т.п. Вместе с тем каждый из перечисленных подходов имеет свои достоинства и недостатки и ограниченную сферу применения. Несмотря на большое число работ в указанном направлении, в целом прблема сокращения ДИ остается открытой до сегодняшнего дня.
Под термином "диагностическая информация" понимают совокупность данных, наличие которых необходимо для проведения процесса диагностирования. Содержание диагностической информации зависит от применяемой технологии диагностирования. Однако в любом случае ДИ должна содержать в себе данные о каждом тестовом воздействии, информацию о составе контрольных точек ЦУ, с которых "снимаются" его реакции на тестовые воздействи, ожидаемые результаты тестовых воздействий, а также данные о последовательности подачи тестовых воздействий в процессе диагностирования.
Ожидаемые результаты тестовых воздействий могут быть оформлены заданием явной математической модели объекта диагностирования.
Такую модель часто представляют в табличной форме с помощью так называемой таблицы функций неисправностей (ТФН). Эта таблица является прямоугольной. Каждой ее строке ставится в соответствие техническое состояние объекта диагностирования из множества $$S$$, а столбцам -
Если множество тестов $$T$$ обладает свойством обнаружения любой неисправности из множества $$F$$ всех рассматриваемых допустимых неисправностей, т. е. для любой неисправности $$f_i\in F$$ найдется хотя бы один тестовый набор $$t_j$$ такой , что $$R_{0j}\ne R_{ij}$$, то все строки ТФН отличны от первой строки (здесь $$R_{0j}$$ - реакция исправного ЦУ на тест $$t_j$$). Если же множество $$T$$ обладает также свойством различения всех неисправностей из множества $$F$$, т. е. для каждой пары неисправностей $$f_i$$,$$f_k\in F$$, найдется хотя бы один тестовый набор $$t_j$$ такой, что $$R_{ij}\ne R_{kj}$$, то все строки таблицы, представляющие неисправные состояния, попарно различны.
В качестве примера проиллюстрируем построение таблицы функций неисправностей устройства, изображенного на рис. 27.1(комбинационная схема С17 из каталога ISCAS-85).
(рис 27.1) Комбинационная схема С17
Пусть множество неисправностей ограничено восемью неисправностями, представленными в табл. 27.1.
| $$ f_1$$ | Константа единица на входе 3 |
|---|---|
| $$ f_2$$ | Константа единица на первом входе блока 7 |
| $$ f_3$$ | Константа ноль на выходе блока 7 |
| $$ f_4$$ | Константа единица на выходе блока 8 |
| $$ f_5$$ | Константа единица на втором входе блока 10 |
| $$ f_6$$ | Константа ноль на выходе блока 10 |
| $$ f_7$$ | Константа ноль на выходе блока 11 |
| $$ f_8$$ | Константа единица на входе 2 |
Через $$s_i$$ обозначим техническое состояние устройства, содержащее неисправность $$f_i (i = 1,2, \ldots,8)$$.
Каждый тестовый набор $$t_j$$ будем далее именовать также элементарной проверкой и обозначать через $$\pi_j$$.
В табл. 27.2 представлены все возможные тестовые воздействия, используемые для проверки устройства С17. Каждая элементарная провека $$\pi_j$$ представлена пятизначным двоичным кодом , в котором значения разрядов, перенумерованных слева направо, равны значениям сигналов, подаваемых на входы 1- 5 устройства.
| $$ \pi_{0} $$ | 00000 | $$ \pi_{8} $$ | 00010 | $$ \pi_{16} $$ | 00001 | $$ \pi_{24} $$ | 00011 |
| $$ \pi_{1} $$ | 10000 | $$ \pi_{9} $$ | 10010 | $$ \pi_{17} $$ | 10001 | $$ \pi_{25} $$ | 10011 |
| $$ \pi_{2} $$ | 01000 | $$ \pi_{10} $$ | 01010 | $$ \pi_{18} $$ | 01001 | $$ \pi_{26} $$ | 01011 |
| $$ \pi_{3} $$ | 11000 | $$ \pi_{11} $$ | 11010 | $$ \pi_{19} $$ | 11001 | $$ \pi_{27} $$ | 11011 |
| $$ \pi_{4} $$ | 00100 | $$ \pi_{12} $$ | 00110 | $$ \pi_{20} $$ | 00101 | $$ \pi_{28} $$ | 00111 |
| $$ \pi_{5} $$ | 10100 | $$ \pi_{13} $$ | 10110 | $$ \pi_{21} $$ | 10101 | $$ \pi_{29} $$ | 10111 |
| $$ \pi_{6} $$ | 01100 | $$ \pi_{14} $$ | 01110 | $$ \pi_{22} $$ | 01101 | $$ \pi_{30} $$ | 01111 |
| $$ \pi_{7} $$ | 11100 | $$ \pi_{15} $$ | 11110 | $$ \pi_{23} $$ | 11101 | $$ \pi_{31} $$ | 11111 |
Результат построения ТФН для устройства C17 представлен в табл. 27.3. Содержимое каждой клетки этой таблицы представляет собой двузначный двоичный код, первый разряд которого соответствует значению на выходе 12, а второй - значению на выходе 13.
Из анализа построенной ТФН можно сделать вывод, что множество T элементарных проверок обладает свойством обнаружения любой неисправности из множества $$F$$: проверка $$\pi_1$$ отличает $$s_0$$ от состояний $$s_1$$ и $$s_8$$, проверка $$\pi_2$$ - от состояний $$s_3$$, $$s_4$$, $$s_5$$, $$s_6$$ и $$s_7$$, а $$\pi_{10}$$ отличает $$s_0$$ от $$s_2$$. Множество $$T$$ обладает также свойством различения всех неисправностей из множества $$F$$. Действительно, проверка $$\pi_1$$ различает состояния $$s_1$$ и $$s_8$$ между собой и отличает их от остальных состояний. Таким же образом пр оверка $$\pi_{21}$$ различает между собой и отличает от других технические состояния $$s_3$$, $$s_6$$, $$s_7$$, а оставшиеся состояния $$s_4$$ и $$s_5$$ различает между собой проверка $$\pi_2$$.
Таблица неисправностей, как универсальная математическая модель объекта диагностирования, очень наглядна и удобна при обсуждении и классификации принципов, а также основных процедур построения и реализации алгоритмов диагностирования, даже если эти принципы и процедуры первоначально формулируются на языках, отличных от языка таблиц функций неисправностей.
Однако непосредственное использование таблицы функций неисправностей как формы представления информации при построении и реализации алгоритмов диагностирования и физических моделей объектов диагностирования часто невозможно из-за большой размерности таблицы.
Вместо полных ТФН в процессах диагностирования практическое применение получили так называемые $$T$$-таблицы функций неисправностей.
| $$ \pi_{0}$$ | $$ \pi_{1}$$ | $$ \pi_{2}$$ | $$ \pi_{3}$$ | $$ \pi_{4}$$ | $$ \pi_{5} $$ | $$ \pi_{6} $$ | $$ \pi_{7} $$ | $$ \pi_{8} $$ | $$ \pi_{9} $$ | $$ \pi_{10} $$ | $$ \pi_{11} $$ | $$ \pi_{12} $$ | $$ \pi_{13} $$ | $$ \pi_{14} $$ | $$ \pi_{15} $$ | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| $$s_0$$ | 00 | 00 | 11 | 11 | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 00 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_1$$ | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_2 $$ | 00 | 00 | 11 | 11 | 00 | 10 | 11 | 11 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 |
| $$s_4 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_5 $$ | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 10 | 01 | 11 | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_6 $$ | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 00 | 01 | 01 | 00 | 00 | 00 | 00 |
| $$s_7 $$ | 00 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 10 | 10 | 00 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_8 $$ | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 |
| $$ \pi_{16} $$ | $$ \pi_{17} $$ | $$ \pi_{18} $$ | $$ \pi_{19} $$ | $$ \pi_{20} $$ | $$ \pi_{21} $$ | $$ \pi_{22} $$ | $$ \pi_{23} $$ | $$ \pi_{24} $$ | $$ \pi_{25} $$ | $$ \pi_{26} $$ | $$ \pi_{27} $$ | $$ \pi_{28} $$ | $$ \pi_{29} $$ | $$ \pi_{30} $$ | $$ \pi_{31} $$ | |
| $$s_0$$ | 01 | 01 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_1$$ | 01 | 11 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_2 $$ | 01 | 01 | 11 | 11 | 01 | 11 | 11 | 11 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_4 $$ | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 11 | 01 | 11 | 01 | 01 | 01 | 01 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_5 $$ | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 11 | 01 | 11 | 01 | 01 | 01 | 01 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_6 $$ | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 01 | 00 | 00 | 00 | 00 |
| $$s_7 $$ | 00 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 10 | 10 | 10 | 00 | 10 | 10 | 00 | 10 | 00 | 10 |
| $$s_8 $$ | 10 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 11 | 00 | 10 | 00 | 10 |
Как видно из приведенного примера, полная ТФН может содержать большой объем избыточной информации, который можно сократить. Определение совокупности $$T$$ элементарных проверок, входящих в алгоритм диагностирования, соответствует выделению определенной совокупности столбцов таблицы функций неисправностей. Для алгоритмов проверки исправности, работоспособности или правильности функционирования устройства эта совокупность столбцов такова, что строка образуемой ими
Возможное содержимое $$T$$-ТФН для алгоритма поиска неисправностей устройства C17 из последнего примера приведено в табл. 27.4.
При представлении физической модели объекта с помощью $$T$$-ТФН процесс расшифровки фактических результатов $$R^*_j$$ элементарных проверок можно представить следующим образом. Каждая реализованная элементарная проверка $$\pi_j$$ выделяет соответствующий столбец $$T$$-ТФН, а ее фактический результат $$R^*_j$$ делит множество строк таблицы на два подмножества. Строки, соответствующие техническим состояниям $$s_i$$, для которых $$R_{ij}\ne R^*_{j}$$, "вычеркиваются" из таблицы. Оставшиеся строки, для которых $$R_{ij} = R^*_{j}$$, представляют подмножество возможных технических состояний объекта. Завершению процесса диагностирования соответствует момент, когда в таблице останется единственная "невычеркнутая" строка. Заметим, что "вычеркивание" строки, соответствующей $$s_0$$ , означает, что объект диагноза неисправен.
| $$ \pi_1$$ | $$ \pi_2$$ | $$ \pi_{10}$$ | $$ \pi_{21}$$ | |
|---|---|---|---|---|
| $$s_0$$ | 00 | 11 | 11 | 11 |
| $$s_1$$ | 10 | 11 | 00 | 11 |
| $$s_2 $$ | 00 | 11 | 00 | 11 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 00 |
| $$s_4 $$ | 00 | 00 | 00 | 11 |
| $$s_5 $$ | 00 | 01 | 01 | 11 |
| $$s_6 $$ | 00 | 01 | 01 | 01 |
| $$s_7 $$ | 00 | 10 | 10 | 10 |
| $$s_8 $$ | 11 | 11 | 11 | 11 |
Чем меньше число столбцов $$T$$-ТФН, тем (при прочих равных условиях) проще реализация соответствующего ей алгоритма диагностирования и представляемой ею физической модели объекта. Поэтому при проектировании систем диагностирования часто стремятся строить алгоритмы диагностирования как можно c меньшим числом входящих в них элементарных проверок. Чем больше разнообразие элементарных проверок в множестве $$T$$, тем шире возможности получения алгоритмов диагностирования с малым числом элементарных проверок. Однако, вообще говоря, чем больше столбцов (а также строк) содержит полная ТФН, тем больше требуется операций по ее обработке для построения экономных алгоритмов диагностирования. Отсюда можно сделать неформальный вывод о том, что чем больше усилий будет затрачено при построении алгоритма диагностирования, тем будет проще последующая техническая реализация системы диагностирования.
При безусловном диагностировании устройства (подача теста производится без прерывания этого процесса для проведения какого-либо анализа) множество $$T$$ состоит из единственного воздействия $$\tau$$, состоящего из некоторой последовательности элементарных проверок. $$T$$-ТФН для алгоритма диагностирования в этом случае будет состоять из единственного столбца. В клетку $$i$$-ой строки $$T$$-ТФН ($$0\le i\le |S|$$) вписывается последовательность ответов объекта $$f_i$$ на элементарные проверки в порядке их следования в диагностическом тесте - полная реакция объекта $$f_i$$ на диагностический тест. Полная реакция эталонного устройства $$f_0$$ в таком случае называют эталонной реакцией.
Например, пусть для устройства $$C17$$ диагностический тест $$\tau$$ представляет собой последовательность проверок $$ \pi_{27}$$, $$ \pi_1$$, $$ \pi_3$$, $$\pi_{29}$$. Для такого случая результат построения $$T$$-ТФН приведен в табл. 27.5.
| $$ \pi_{27}$$ | $$ \pi_1$$ | $$ \pi_3$$ | $$ \pi_{29}$$ | |
|---|---|---|---|---|
| $$s_0$$ | 11 | 00 | 11 | 10 |
| $$s_1$$ | 10 | 10 | 11 | 10 |
| $$s_2 $$ | 00 | 00 | 11 | 10 |
| $$s_3 $$ | 00 | 00 | 00 | 10 |
| $$s_4 $$ | 01 | 00 | 00 | 10 |
| $$s_5 $$ | 01 | 00 | 01 | 10 |
| $$s_6 $$ | 01 | 00 | 01 | 00 |
| $$s_7 $$ | 10 | 00 | 10 | 10 |
| $$s_8 $$ | 11 | 11 | 11 | 10 |
Построенная таким образом $$T$$-ТФН играет роль словаря неисправностей. Словарь неисправностей, представляющий собой $$T$$-ТФН, называют словарем полной реакции (СПР).
Информация, представленная $$T$$-ТФН, составляет значительную долю диагностической информации, необходимой для контроля и поиска неисправностей у объекта диагностирования. Общий объем $$T$$-ТФН в случае, когда каждая элементарная проверка представляет собой один набор значений входных переменных, может быть вычислен по формуле
$$(|F|+1)\cdot |T|\cdot m\cdot b$$где $$m$$ - количество выходных переменных объекта диагностирования, а $$b$$ - количество бит, необходимых для хранения значения одного выходного параметра объекта диагностирования.
Несмотря на то, что размерность $$T$$-ТФН гораздо меньше размерности полной ТФН, ее объем для достаточно сложных устройств все же остается значительным.
Существует две основные технологии, направленные на его сокращение. Первая - минимизация количества элементарных проверок в множестве $$T$$ или количества воздействий в диагностическом тесте $$\tau$$ при максимальном диагностическом разрешении. Это направление детально исследуется в работах [1-3].
Другая технология связана с особыми формами организации информации, содержащейся в $$T$$-ТФН, с целью уменьшения ее общего объема. Этому направлению посвящены работы [4-20].
В задачах обнаружения неисправностей необходимость в информации из $$Т$$-ТФН, касающейся неисправных модификаций объекта диагностирования, отпадает. Поэтому в данной ситуации вместо $$T$$-ТФН в ДИ может содержаться лишь информация для технического состояния $$s_0$$ (исправного устройства), а в случае безусловного диагностирования содержимое $$Т$$-ТФН вырождается в единственную реакцию исправного объекта - эталонную реакцию. Хотя объем такой $$Т$$-ТФН уменьшается по сравнению с объемом, представленным в (27.1) в $$?F?+1$$ раз, но тем не менее желательно его дальнейшее сокращение. Вопросы дальнейшего сокращения исследуются и реализуются при проектировании систем встроенного тестирования. В частности, эти вопросы решаются и методами компактного тестирования,о которых мы говорили в предыдущей лекции.
Таблица функций неисправностей - содержит информацию о реакциях проверяемого ЦУ, находящегося в различных технических состояний, на все
Т- таблица функций неисправностей - таблица , полученная из полной таблицы функций неисправностей путем удаления из нее избыточной информации.
В лекции описана таблица функций неисправностей, содержащая информацию о реакциях проверяемого ЦУ, находящегося в различных технических состояниях, на все наборы используемого теста. Кратко описана так называемая $$T$$-ТФН, получаемая из полной таблицы функций неисправностей за счет удаления из нее избыточной информации.
(рис 27.2) Пример комбинационной схемы.
| Неисправность $$f_1$$ | Константа 1 на выходе блока 4 |
|---|---|
| Неисправность $$f_2$$ | Константа 1 на выходе блока 5 |
| Неисправность $$f_3$$ | Константа 0 на входе 2 |
| Неисправность $$f_4$$ | Константа 1 на выходе блока 9 |
| Неисправность $$f_5$$ | Константа 0 на выходе блока 10 |
Для этого устройства и заданного множества неисправностей :
Для получения официальных документов о завершении программы дополнительного профессионального образования (удостоверения о повышении квалификации, дипломов о профессиональной переподготовке и MBA) необходимо предоставить:
Внимание! Вы можете не заказывать доставку бумажной версии официального документы, а скачать его в электронном виде и распечатать самостоятельно. Информация о выданном документе в течение 1 месяца загружается в Федеральную информационную систему «Федеральный реестр сведений о документах об образовании и (или) о квалификации, документах об обучении» - ФИС ФРДО.
Доступ на новый сайт осуществляется с использованием адреса электронной почты, который был указан вами при регистрации на "старом". Мы постарались перенести все ваши данные с прежнего ресурса, однако не исключена вероятность потери части информации.
При возникновении проблемы со входом, воспользуйтесь функцией сброса пароля
Если вы обнаружите несоответствия, пожалуйста, сообщите нам.