Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств

Экспериментальные результаты апробации жадных алгоритмов

Разбить на страницы
Показывать лекцию целиком

Для оценки эффективности предложенных алгоритмов были проведены численные эксперименты с диагностической информацией для ЦУ из набора схем ISCAS'89 [1]. Для каждого ЦУ была получена ДИ при моделировании одиночных неисправностей с применением тестовых векторов, сгенерированных с помощью пакета программ HITEC[2]. Информация об этой ДИ приведена в табл. 33.1.

Схема $$n$$ $$m$$ $$|S|$$ $$|\tau|$$ $$m|\tau| $$ Объем ДИ, бит
S298 3 6 178 322 1932 343896
S344 9 11 241 127 1397 336677
S349 9 11 244 134 1474 359656
S382 3 6 191 2074 12444 2376804
S386 7 7 275 286 2002 550550
S400 3 6 195 2214 13284 2590380
S444 3 6 192 2240 13440 2580480
S526 3 6 139 2258 13548 1883172
S641 35 24 346 209 5016 1735536
S713 35 23 344 173 3979 1368776
S820 18 19 713 1115 21185 15104905
S832 18 19 720 1137 21603 15554160
S953 16 23 327 14 322 105294
S1423 17 5 294 150 750 220500
S1488 8 19 1360 1170 22230 30232800
S1494 8 19 1361 1245 23655 32194455
S2081 10 1 56 100 100 5600

Результаты экспериментов, демонстрируемые ниже, получены на PC Intel Pentium III 1700 MHz, 256 MB RAM.

В ходе первой серии экспериментов для каждого варианта ДИ была найдена единая маска с помощью алгоритма 1. Результаты экспериментов приведены в табл. 33.2.

Схема Объем маски, бит Объем сокращенной ДИ, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек
S298 61 10797 3,16% 1,464
S344 59 14160 4,22% 1,272
S349 62 15066 4,21% 1,440
S382 55 10450 0,44% 9,072
S386 91 24934 4,55% 3,360
S400 58 11252 0,44% 10,272
S444 60 11460 0,45% 10,224
S526 38 5244 0,28% 5,784
S641 132 45540 2,63% 16,944
S713 131 44933 3,29% 13,464
S820 244 173728 1,15% 304,776
S832 253 181907 1,17% 324,432
S953 91 29666 28,26% 0,648
S1423 93 27249 12,40% 1,368
S1488 384 521856 1,73% 1300,056

Второй столбец табл. 33.2 показывает объем найденной маски для соответствующего ДУ, а в третьем столбце приведен объем ДИ после сокращения с помощью найденной маски.

Схема Объем ТН, бит Объем маски, бит Объем сокращенной ТН, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек
S298 56994 30 5310 9,32% 0,168
S344 30480 29 6960 22,83% 0,096
S349 32562 35 8505 26,12% 0,120
S382 394060 28 5320 1,35% 1,032
S386 78364 65 17810 22,73% 0,624
S400 429516 32 6208 1,45% 2,376
S444 427840 30 5730 1,34% 2,352
S526 311604 28 3864 1,24% 1,464
S641 72105 58 20010 27,75% 0,576
S713 59339 58 19894 33,53% 0,456
S820 793880 147 104664 13,18% 21,816
S832 817503 151 108569 13,28% 22,080
S953 4564 13 4238 92,86% 0,024
S1423 43950 58 16994 38,67% 0,360
S1488 1590030 158 214722 13,50% 64,056

Во второй серии экспериментов для рассматриваемых ДУ были построены ТН, после чего к каждой ТН был применен алгоритм нахождения маски с целью еще большего сокращения ДИ. Результаты данной серии экспериментов приведены в табл. 33.3. Как видно из табл. 33.3, объем ТН может быть существенно сокращен, несмотря на тот факт, что объем ТН уже значительно меньше объема исходной ДИ. Принимая во внимание незначительность времени на проведение такого сокращения (чуть более минуты для самой большой по объему ТН), отметим, что такой прием может быть полезен в качестве дополнения для сокращения ДИ с помощью ТН.

В следующей серии экспериментов проводился поиск маски фиксированного объема для тех же ТН, что использовались в предыдущей серии экспериментов. Объем искомой маски был нами заранее ограничен величиной $$M=\lceil\log_2(N+1)\rceil$$. Результат применения алгоритма поиска маски приведен в табл. 33.4.

Схема $$ \rho_3$$ $$ M$$ Объем сокращенной ТН, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек $$ \rho_3(H) $$ Потеря разрешающей способности диагностирования
S298 0,997304 8 1416 2,48% 0,048 0,978814 1,85%
S344 0,997455 8 1920 6,30% 0,024 0,967434 3,01%
S349 0,997381 8 1944 5,97% 0,024 0,970445 2,70%
S382 0,998273 8 1520 0,39% 0,384 0,974770 2,35%
S386 0,999599 9 2466 3,15% 0,072 0,920189 7,94%
S400 0,998184 8 1552 0,36% 0,432 0,974360 2,39%
S444 0,997740 8 1528 0,36% 0,408 0,972114 2,57%
S526 0,994922 8 1104 0,35% 0,264 0,975352 1,97%
S641 0,999916 9 3105 4,31% 0,096 0,956539 4,34%
S713 0,999915 9 3087 5,20% 0,072 0,955313 4,46%
S820 0,999633 10 7120 0,90% 1,584 0,820948 17,88%
S832 0,999682 10 7190 0,88% 1,320 0,832373 16,74%
S953 0,977857 9 2934 64,29% 0,012 0,968816 0,92%
S1423 0,999930 9 2637 6,00% 0,072 0,930268 6,97%
S1488 0,999764 11 14949 0,94% 6,384 0,890245 10,95%

Из этой таблицы видно, что наибольшая потеря в разрешающей способности диагностирования происходит при сокращении ТН для ДУ с наибольшей по объему ДИ. Но, с другой стороны, сокращение ДИ в 100 раз повлекло за собой потерю разрешающей способности в пределах, не превышающих 20%.

Наконец, для того чтобы продемонстрировать эффективность предложенного алгоритма, был реализован метод сокращения ТН, предложенный в Ошибка! Источник ссылки не найден.. Во второй фазе этого метода ищется маска для словаря неисправностей, полученного из ТН после прохождения первой фазы. В оригинальном алгоритме задача поиска маски сводится к задаче нахождения минимального покрытия множества, для чего производится дополнительное построение так называемой матрицы различимости. В табл. 33.5 сравниваются результаты применения реализованного метода с результатами применения того же метода, но в котором поиск маски осуществлялся по алгоритму 1. Для данной серии экспериментов использовались ТН с разрешающей способностью диагностирования равной $$1$$. табл. 33.5 показывает, что оба метода дают близкие друг к другу результаты. Вместе с тем, если принять во внимание временные затраты и затраты памяти, то можно сказать, что описанный нами метод более предпочтителен для ДИ значительного объема. Другими словами, с ростом объема ДИ его эффективность становится существенно выше по сравнению с методом в [3].

Схема $$ |F|$$ Объем ТН, бит Результаты оригинального метода Результаты модифицированного метода
Объем маски, бит Объем сокращенной ТН, бит Время работы алгоритма, сек Необходимый объем дополнительной памяти, КБ Объем маски, бит Объем сокращенной ТН, бит Время работы алгоритма, сек
S298 150 48300 14 2100 2,304 439,25 16 2400 0,048
S344 187 23749 20 3740 2,328 269,61 21 3927 0,024
S349 190 25460 17 3230 2,712 293,70 19 3610 0,024
S382 165 342210 18 2970 36,216 3425,44 16 2640 0,360
S386 263 75218 41 10783 38,976 1202,83 42 11046 0,120
S400 167 369738 20 3340 43,944 3746,12 20 3340 0,432
S444 158 353920 17 2686 39,504 3391,45 20 3160 0,792
S526 108 243864 16 1728 15,456 1592,62 16 1728 0,480
S641 342 71478 31 10602 59,640 1487,67 32 10944 0,216
S713 340 58820 35 11900 49,728 1217,04 38 12920 0,192
S820 641 714715 84 53844 933,480 27918,55 84 53844 3,360
S832 656 745872 77 50512 948,384 29818,49 76 49856 3,624
S953 138 1932 13 1794 0,04 0,096 13 1794 0,034
S1423 291 43650 33 9603 20,208 772,61 33 9603 0,144
S1488 1218 1425060 77 93786 3004,39 105853,15 77 93786 9,408
Схема Объем совокупности масок, бит Объем максимальной маски, бит Средний объем маски, бит Объем словаря неисправностей, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек
1 2 3 4 5 6 7
S298 477 33 2.68 6732 1.96% 1.758
S344 717 29 2.98 9564 2.84% 2.556
S349 709 30 2.91 10189 2.83% 2.742
S382 526 40 2.75 8986 0.38% 11.244
S386 822 73 2.99 11508 2.09% 5.724
S400 525 40 2.69 8982 0.35% 12.867
S444 527 40 2.74 9005 0.35% 12.402
S526 367 17 2.64 6286 0.33% 4.851
S641 961 98 2.78 15179 0.87% 27.762
S713 976 99 2.84 15379 1.12% 21.672
S820 2128 204 2.98 39736 0.26% 161.358
S832 2155 197 2.99 40230 0.26% 172.272
S1423 960 57 3.27 12399 5.62% 0.438
S1488 4334 313 3.19 80473 0.27% 1017.504
S2081 168 13 3.0 1567 27.98% 0.038

Целью следующей серии экспериментов является демонстрация работы алгоритма 2 на ДИ, составленной для реальных ДУ. В табл. 33.6 приведены результаты этой серии.

Из сравнения результатов поиска единой маски (табл. 33.2) и индивидуальной маски можно видеть, что объем индивидуальной маски меньше (а в большинстве случаев гораздо меньше) объема единой маски: объем единой маски в десятки раз превышает средний объем единой маски в совокупности. Но в случае единой маски кроме отфильтрованной диагностической информации необходимо также сохранить соответствие между масками и техническими состояниями ДУ. В этом случае можно организовать словарь неисправностей по подобию вектора обнаружения неисправностей, описанного нами ранее. В нашем случае вместо реакций обнаружения в словаре сохраняются тройки, первые две составляющие которых представляют точку проверки, а последняя - значение данной точки проверки для соответствующего технического состояния. Таким образом, каждый элемент вектора представляет собой индивидуальную маску в совокупности со значениями точек проверки. При такой структуре словаря неисправностей необходим специальный символ, отделяющий элементы вектора друг от друга. Объем словаря неисправностей в этом случае будет равен величине

$$ (|S|-1)b'+M''\cdot(\log_2{m}+\log_2{|\tau|}+1),$$

где $$b'$$ - количество бит, необходимых для отделения данных по одному техническому состоянию от остальной информации, $$M''$$ - суммарное количество точек проверки по всем маскам с учетом их кратности. Исходя из тех соображений, что для разделения информации необходимо выделить столько же бит, сколько требуется для идентификации одного выходного полюса ДУ, объем словаря равен величине

$$ (|S|-1)\log_2{(m+1)}+M''\cdot(\log_2{(m+1)}+\log_2{|\tau|}+1)$$

Для полученных в результате эксперимента словарей неисправностей данная величина показана в пятом столбце табл. 33.6. Из сравнения объемов словарей неисправностей, полученных в результате сокращения ДИ с помощью единой маски и набора индивидуальных масок (табл. 33.4 и табл. 33.6 соответственно), можно сделать вывод, что сокращение информации с помощью индивидуальных масок в большинстве случаев происходит значительно эффективнее.

Ключевые термины:

Оценка эффективности алгоритма - проведение численных экспериментов для определения времени работы алгоритма, обеспечиваемой им глубины диагностирования , доли сокращения ДИ и т.п.

Испытательные схемы каталога ISCAS ? 89 -набор типовых цифровых схем, используемых для оценки параметров различных алгоритмов решения задач технической диагностики.

Краткие итоги:

В лекции представлены экспериметальные данные по применению двух жадных алгоритмов к сокращению ДИ,подтверждающие их достаточно выскую эффективность.

Вопросы и упражнения

  • Перечислите все серии экспериметов , проведенные с испытательными схемами.
  • Проанализируйте результаты поиска маски полной ДИ , оценив диапазон времени работы алгоритма 1 , данные о разрешающей способности диагностирования и диапазон доли сокращенной ДИ.
  • Проанализируйте аналогичные результаты поиска в случае предварительной замены полной ДИ на таблицу неисправностей. Как это сказалось на разрешающей способности диагностирования?
  • Проанализируйте результаты серии экспериментов с алгоритмом 2 и сформулируйте выводы.
    •
    Страницы:

    Для оценки эффективности предложенных алгоритмов были проведены численные эксперименты с диагностической информацией для ЦУ из набора схем ISCAS'89 [1]. Для каждого ЦУ была получена ДИ при моделировании одиночных неисправностей с применением тестовых векторов, сгенерированных с помощью пакета программ HITEC[2]. Информация об этой ДИ приведена в табл. 33.1.

    Схема $$n$$ $$m$$ $$|S|$$ $$|\tau|$$ $$m|\tau| $$ Объем ДИ, бит
    S298 3 6 178 322 1932 343896
    S344 9 11 241 127 1397 336677
    S349 9 11 244 134 1474 359656
    S382 3 6 191 2074 12444 2376804
    S386 7 7 275 286 2002 550550
    S400 3 6 195 2214 13284 2590380
    S444 3 6 192 2240 13440 2580480
    S526 3 6 139 2258 13548 1883172
    S641 35 24 346 209 5016 1735536
    S713 35 23 344 173 3979 1368776
    S820 18 19 713 1115 21185 15104905
    S832 18 19 720 1137 21603 15554160
    S953 16 23 327 14 322 105294
    S1423 17 5 294 150 750 220500
    S1488 8 19 1360 1170 22230 30232800
    S1494 8 19 1361 1245 23655 32194455
    S2081 10 1 56 100 100 5600

    Результаты экспериментов, демонстрируемые ниже, получены на PC Intel Pentium III 1700 MHz, 256 MB RAM.

    В ходе первой серии экспериментов для каждого варианта ДИ была найдена единая маска с помощью алгоритма 1. Результаты экспериментов приведены в табл. 33.2.

    Схема Объем маски, бит Объем сокращенной ДИ, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек
    S298 61 10797 3,16% 1,464
    S344 59 14160 4,22% 1,272
    S349 62 15066 4,21% 1,440
    S382 55 10450 0,44% 9,072
    S386 91 24934 4,55% 3,360
    S400 58 11252 0,44% 10,272
    S444 60 11460 0,45% 10,224
    S526 38 5244 0,28% 5,784
    S641 132 45540 2,63% 16,944
    S713 131 44933 3,29% 13,464
    S820 244 173728 1,15% 304,776
    S832 253 181907 1,17% 324,432
    S953 91 29666 28,26% 0,648
    S1423 93 27249 12,40% 1,368
    S1488 384 521856 1,73% 1300,056

    Второй столбец табл. 33.2 показывает объем найденной маски для соответствующего ДУ, а в третьем столбце приведен объем ДИ после сокращения с помощью найденной маски.

    Схема Объем ТН, бит Объем маски, бит Объем сокращенной ТН, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек
    S298 56994 30 5310 9,32% 0,168
    S344 30480 29 6960 22,83% 0,096
    S349 32562 35 8505 26,12% 0,120
    S382 394060 28 5320 1,35% 1,032
    S386 78364 65 17810 22,73% 0,624
    S400 429516 32 6208 1,45% 2,376
    S444 427840 30 5730 1,34% 2,352
    S526 311604 28 3864 1,24% 1,464
    S641 72105 58 20010 27,75% 0,576
    S713 59339 58 19894 33,53% 0,456
    S820 793880 147 104664 13,18% 21,816
    S832 817503 151 108569 13,28% 22,080
    S953 4564 13 4238 92,86% 0,024
    S1423 43950 58 16994 38,67% 0,360
    S1488 1590030 158 214722 13,50% 64,056

    Во второй серии экспериментов для рассматриваемых ДУ были построены ТН, после чего к каждой ТН был применен алгоритм нахождения маски с целью еще большего сокращения ДИ. Результаты данной серии экспериментов приведены в табл. 33.3. Как видно из табл. 33.3, объем ТН может быть существенно сокращен, несмотря на тот факт, что объем ТН уже значительно меньше объема исходной ДИ. Принимая во внимание незначительность времени на проведение такого сокращения (чуть более минуты для самой большой по объему ТН), отметим, что такой прием может быть полезен в качестве дополнения для сокращения ДИ с помощью ТН.

    В следующей серии экспериментов проводился поиск маски фиксированного объема для тех же ТН, что использовались в предыдущей серии экспериментов. Объем искомой маски был нами заранее ограничен величиной $$M=\lceil\log_2(N+1)\rceil$$. Результат применения алгоритма поиска маски приведен в табл. 33.4.

    Схема $$ \rho_3$$ $$ M$$ Объем сокращенной ТН, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек $$ \rho_3(H) $$ Потеря разрешающей способности диагностирования
    S298 0,997304 8 1416 2,48% 0,048 0,978814 1,85%
    S344 0,997455 8 1920 6,30% 0,024 0,967434 3,01%
    S349 0,997381 8 1944 5,97% 0,024 0,970445 2,70%
    S382 0,998273 8 1520 0,39% 0,384 0,974770 2,35%
    S386 0,999599 9 2466 3,15% 0,072 0,920189 7,94%
    S400 0,998184 8 1552 0,36% 0,432 0,974360 2,39%
    S444 0,997740 8 1528 0,36% 0,408 0,972114 2,57%
    S526 0,994922 8 1104 0,35% 0,264 0,975352 1,97%
    S641 0,999916 9 3105 4,31% 0,096 0,956539 4,34%
    S713 0,999915 9 3087 5,20% 0,072 0,955313 4,46%
    S820 0,999633 10 7120 0,90% 1,584 0,820948 17,88%
    S832 0,999682 10 7190 0,88% 1,320 0,832373 16,74%
    S953 0,977857 9 2934 64,29% 0,012 0,968816 0,92%
    S1423 0,999930 9 2637 6,00% 0,072 0,930268 6,97%
    S1488 0,999764 11 14949 0,94% 6,384 0,890245 10,95%

    Из этой таблицы видно, что наибольшая потеря в разрешающей способности диагностирования происходит при сокращении ТН для ДУ с наибольшей по объему ДИ. Но, с другой стороны, сокращение ДИ в 100 раз повлекло за собой потерю разрешающей способности в пределах, не превышающих 20%.

    Наконец, для того чтобы продемонстрировать эффективность предложенного алгоритма, был реализован метод сокращения ТН, предложенный в Ошибка! Источник ссылки не найден.. Во второй фазе этого метода ищется маска для словаря неисправностей, полученного из ТН после прохождения первой фазы. В оригинальном алгоритме задача поиска маски сводится к задаче нахождения минимального покрытия множества, для чего производится дополнительное построение так называемой матрицы различимости. В табл. 33.5 сравниваются результаты применения реализованного метода с результатами применения того же метода, но в котором поиск маски осуществлялся по алгоритму 1. Для данной серии экспериментов использовались ТН с разрешающей способностью диагностирования равной $$1$$. табл. 33.5 показывает, что оба метода дают близкие друг к другу результаты. Вместе с тем, если принять во внимание временные затраты и затраты памяти, то можно сказать, что описанный нами метод более предпочтителен для ДИ значительного объема. Другими словами, с ростом объема ДИ его эффективность становится существенно выше по сравнению с методом в [3].

    Схема $$ |F|$$ Объем ТН, бит Результаты оригинального метода Результаты модифицированного метода
    Объем маски, бит Объем сокращенной ТН, бит Время работы алгоритма, сек Необходимый объем дополнительной памяти, КБ Объем маски, бит Объем сокращенной ТН, бит Время работы алгоритма, сек
    S298 150 48300 14 2100 2,304 439,25 16 2400 0,048
    S344 187 23749 20 3740 2,328 269,61 21 3927 0,024
    S349 190 25460 17 3230 2,712 293,70 19 3610 0,024
    S382 165 342210 18 2970 36,216 3425,44 16 2640 0,360
    S386 263 75218 41 10783 38,976 1202,83 42 11046 0,120
    S400 167 369738 20 3340 43,944 3746,12 20 3340 0,432
    S444 158 353920 17 2686 39,504 3391,45 20 3160 0,792
    S526 108 243864 16 1728 15,456 1592,62 16 1728 0,480
    S641 342 71478 31 10602 59,640 1487,67 32 10944 0,216
    S713 340 58820 35 11900 49,728 1217,04 38 12920 0,192
    S820 641 714715 84 53844 933,480 27918,55 84 53844 3,360
    S832 656 745872 77 50512 948,384 29818,49 76 49856 3,624
    S953 138 1932 13 1794 0,04 0,096 13 1794 0,034
    S1423 291 43650 33 9603 20,208 772,61 33 9603 0,144
    S1488 1218 1425060 77 93786 3004,39 105853,15 77 93786 9,408
    Схема Объем совокупности масок, бит Объем максимальной маски, бит Средний объем маски, бит Объем словаря неисправностей, бит Доля сокращенной ДИ от полной ДИ Время работы алгоритма, сек
    1 2 3 4 5 6 7
    S298 477 33 2.68 6732 1.96% 1.758
    S344 717 29 2.98 9564 2.84% 2.556
    S349 709 30 2.91 10189 2.83% 2.742
    S382 526 40 2.75 8986 0.38% 11.244
    S386 822 73 2.99 11508 2.09% 5.724
    S400 525 40 2.69 8982 0.35% 12.867
    S444 527 40 2.74 9005 0.35% 12.402
    S526 367 17 2.64 6286 0.33% 4.851
    S641 961 98 2.78 15179 0.87% 27.762
    S713 976 99 2.84 15379 1.12% 21.672
    S820 2128 204 2.98 39736 0.26% 161.358
    S832 2155 197 2.99 40230 0.26% 172.272
    S1423 960 57 3.27 12399 5.62% 0.438
    S1488 4334 313 3.19 80473 0.27% 1017.504
    S2081 168 13 3.0 1567 27.98% 0.038

    Целью следующей серии экспериментов является демонстрация работы алгоритма 2 на ДИ, составленной для реальных ДУ. В табл. 33.6 приведены результаты этой серии.

    Из сравнения результатов поиска единой маски (табл. 33.2) и индивидуальной маски можно видеть, что объем индивидуальной маски меньше (а в большинстве случаев гораздо меньше) объема единой маски: объем единой маски в десятки раз превышает средний объем единой маски в совокупности. Но в случае единой маски кроме отфильтрованной диагностической информации необходимо также сохранить соответствие между масками и техническими состояниями ДУ. В этом случае можно организовать словарь неисправностей по подобию вектора обнаружения неисправностей, описанного нами ранее. В нашем случае вместо реакций обнаружения в словаре сохраняются тройки, первые две составляющие которых представляют точку проверки, а последняя - значение данной точки проверки для соответствующего технического состояния. Таким образом, каждый элемент вектора представляет собой индивидуальную маску в совокупности со значениями точек проверки. При такой структуре словаря неисправностей необходим специальный символ, отделяющий элементы вектора друг от друга. Объем словаря неисправностей в этом случае будет равен величине

    $$ (|S|-1)b'+M''\cdot(\log_2{m}+\log_2{|\tau|}+1),$$

    где $$b'$$ - количество бит, необходимых для отделения данных по одному техническому состоянию от остальной информации, $$M''$$ - суммарное количество точек проверки по всем маскам с учетом их кратности. Исходя из тех соображений, что для разделения информации необходимо выделить столько же бит, сколько требуется для идентификации одного выходного полюса ДУ, объем словаря равен величине

    $$ (|S|-1)\log_2{(m+1)}+M''\cdot(\log_2{(m+1)}+\log_2{|\tau|}+1)$$

    Для полученных в результате эксперимента словарей неисправностей данная величина показана в пятом столбце табл. 33.6. Из сравнения объемов словарей неисправностей, полученных в результате сокращения ДИ с помощью единой маски и набора индивидуальных масок (табл. 33.4 и табл. 33.6 соответственно), можно сделать вывод, что сокращение информации с помощью индивидуальных масок в большинстве случаев происходит значительно эффективнее.

    Ключевые термины:

    Оценка эффективности алгоритма - проведение численных экспериментов для определения времени работы алгоритма, обеспечиваемой им глубины диагностирования , доли сокращения ДИ и т.п.

    Испытательные схемы каталога ISCAS ? 89 -набор типовых цифровых схем, используемых для оценки параметров различных алгоритмов решения задач технической диагностики.

    Краткие итоги:

    В лекции представлены экспериметальные данные по применению двух жадных алгоритмов к сокращению ДИ,подтверждающие их достаточно выскую эффективность.

    Вопросы и упражнения

  • Перечислите все серии экспериметов , проведенные с испытательными схемами.
  • Проанализируйте результаты поиска маски полной ДИ , оценив диапазон времени работы алгоритма 1 , данные о разрешающей способности диагностирования и диапазон доли сокращенной ДИ.
  • Проанализируйте аналогичные результаты поиска в случае предварительной замены полной ДИ на таблицу неисправностей. Как это сказалось на разрешающей способности диагностирования?
  • Проанализируйте результаты серии экспериментов с алгоритмом 2 и сформулируйте выводы.
    •
    Предыдущее занятие Следующее занятие
    Вернуться к учебному плану
    ^